安捷倫 4287A射頻LCR測試儀在1 MHz~3 GHz頻率范圍可以提供**、可靠和快速測量,以改進(jìn)生產(chǎn)線(xiàn)上對電子元件進(jìn)行測試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。與反射測量技術(shù)不同,采用直流電壓測量技術(shù)能在大的阻抗范圍進(jìn)行**測量。
生產(chǎn)率高、質(zhì)量可靠
安捷倫 4287A 適于在射頻范圍對電子元器件進(jìn)行測試。4287A的測量速度非???。此外,在小測試電流(100mA)處優(yōu)良的測試重復性還可以顯著(zhù)提高生產(chǎn)率,因為所需的取平均過(guò)程非常短。
系統組建簡(jiǎn)單
測試頭電纜(1m或利用延伸電纜時(shí)為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測件接點(diǎn)附近,而不會(huì )使誤差有任何增大。內置比較器功能、高速GPIB接口和處理器接口可用來(lái)簡(jiǎn)化與元件固定裝置和PC機的組合。增強的比較器功能可以使復雜的倉室適用于多頻或陣列芯片測試。
便于使用
8.4英寸彩色顯示器能清楚觀(guān)察測量設置和結果。新研制的用戶(hù)接口使操作過(guò)程更為方便且無(wú)差錯。內置統計分析功能可以提供監視測試質(zhì)量和效率的過(guò)程??蛇x用的LAN接口有助于統一進(jìn)行生產(chǎn)監控。此外,若干APC-7,SMD測試夾具可以與4287所提供的夾具架和APC-3.5轉APC-7適配器聯(lián)用,從而無(wú)需制作專(zhuān)用夾具。
技術(shù)指標
一般指標
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