• 1MHz～3GHz，以10kHz分檔
• 阻抗測量范圍寬，從200mΩ到3kΩ
• 在低試信號電平上具有優(yōu)良的測量重復性
• 基本精度為1%
• 高速測量:10ms

安捷倫 4287A射頻LCR測試儀在1 MHz～3 GHz頻率范圍可以提供**、可靠和快速測量，以改進(jìn)生產(chǎn)線(xiàn)上對電子元件進(jìn)行測試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。與反射測量技術(shù)不同，采用直流電壓測量技術(shù)能在大的阻抗范圍進(jìn)行**測量。

生產(chǎn)率高、質(zhì)量可靠

安捷倫 4287A 適于在射頻范圍對電子元器件進(jìn)行測試。4287A的測量速度非?？?。此外，在小測試電流(100mA)處優(yōu)良的測試重復性還可以顯著(zhù)提高生產(chǎn)率，因為所需的取平均過(guò)程非常短。

系統組建簡(jiǎn)單

測試頭電纜(1m或利用延伸電纜時(shí)為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測件接點(diǎn)附近，而不會(huì )使誤差有任何增大。內置比較器功能、高速GPIB接口和處理器接口可用來(lái)簡(jiǎn)化與元件固定裝置和PC機的組合。增強的比較器功能可以使復雜的倉室適用于多頻或陣列芯片測試。

便于使用

8.4英寸彩色顯示器能清楚觀(guān)察測量設置和結果。新研制的用戶(hù)接口使操作過(guò)程更為方便且無(wú)差錯。內置統計分析功能可以提供監視測試質(zhì)量和效率的過(guò)程?？蛇x用的LAN接口有助于統一進(jìn)行生產(chǎn)監控。此外，若干APC-7，SMD測試夾具可以與4287所提供的夾具架和APC-3.5轉APC-7適配器聯(lián)用，從而無(wú)需制作專(zhuān)用夾具。

技術(shù)指標

測量參數：|Z|，|Y|，L，C, R，D, Q, X，G，B，θ
測量電路形式：串聯(lián)和并聯(lián)
工作頻率：1 MHz～3 GHz
頻率分辨率：10 kHz
信號源特性：
振蕩器電平：5mVrms～0.25Vrms(輸出端開(kāi)路)
電平顯示單位：V，I，dBm
連接器：APC-3.5
輸出阻抗(額定值)：50Ω
觸發(fā)：內部，外部，手動(dòng)和GPIB
阻抗測量范圍：200 mΩ～3 kΩ
基本測量精度：|Z|:1%；D:0.01
測量時(shí)間：10 ms
接口：GPIB，處理器接口
顯示器：8.4英寸彩色LCD顯示器
儲存：內置HDD/FDD，備用SRAM存儲器

一般指標

工作溫度/濕度：10～40℃/相對濕度15%～80%
預熱時(shí)間：30分鐘
電源要求：90V～132V,或198V～264V，47Hz～66Hz，500VA(*大值)
尺寸：主機：426mm(寬)×234mm(高)×446mm(長(cháng))

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