安捷倫4291B/惠普4291B，HP4291B，Agilent 4291B阻抗分析儀

 安捷倫/惠普4291BRF阻抗/材料分析儀，
四元件測試夾具（被測件尺寸：0.5毫米至20毫米）
在2個(gè)通道的獨立參數的選擇
直接讀出介電常數，透氣性好（選項）
兩種材料夾具（工作溫度：-55?C至200?的C）
多功能分析（溫度，科爾，科爾圖，弛豫時(shí)間）
掃描參數（頻率，AC電平，直流偏置，溫度）
 

安捷倫/惠普4291B
 產(chǎn)品信息
數據1.1 MB
定購信息
PDF幫助
 
  
安捷倫4291B射頻阻抗/材料分析儀提供了一個(gè)高**度和容易測量的表面貼裝元件和介電/磁性??材料的整體解決方案。安捷倫4291B使用直接的電流 - 電壓測量技術(shù)，反對反射測量技術(shù)，為更廣泛的阻抗范圍內提供**的阻抗測量。
基本阻抗精度為+ / - 0.8％。高Q精度使低損耗的成分分析。內部合成器，掃描頻率從1 MHz到1.8 GHz 1 mHz的分辨率。一個(gè)1.8米的錯誤更少的電纜連接分析儀測試站，這樣可以延長(cháng)您的測試點(diǎn)距離分析儀，而不會(huì )失去準確性。先進(jìn)的校準和誤差補償功能，消除固定裝置的測量誤差因素，并保證在DUT / MUT很高的精度和可重復性。

安捷倫4291B還提供了自動(dòng)電平控制，使用IBASIC編程功能和測試信號的監控，可以根據一個(gè)恒定的電壓或電流測量設備。測量偏壓依賴(lài)可選直流偏置（高達40 V和100毫安）的阻抗特性。在按下一個(gè)按鈕，內置等效電路分析功能自動(dòng)計算出5個(gè)電路模型的電路常數值。

安捷倫4291B有兩個(gè)測量通道，每個(gè)通道都可以設置為衡量一個(gè)單一的（如Z）或雙（如Z -θ）阻抗參數。分割顯示彩色TFT顯示活動(dòng)的痕跡和記憶痕跡（存儲在RAM中）。一個(gè)內置的軟盤(pán)驅動(dòng)器的存儲程序和LIF或MS - DOS格式的測試數據。隨著(zhù)內置IBASIC，您可以控制??外部測試設備，如溫度室或直接從安捷倫4291B晶圓探針。你不需要一個(gè)單獨的儀器控制器。

材料評估

惠普/安捷倫4291B可以方便和先進(jìn)的材料評估和提高材料評估的質(zhì)量和效率。安捷倫4291B提供了在寬的頻率范圍內的總電介質(zhì)/磁材料測量解決方案（1 MHz至1 GHz）。