二手Agilent 安捷倫LCR電橋4279A， 1MHz C-V表在測量半導體的電容和偏置電壓特性方面，是提高測量質(zhì)量和吞吐量的*佳解決方案。Agilent 4279A在掃描直流偏置電壓的同時(shí)，可測量0.00001pF至1280.00pF范圍的電容，基本精度為0.1%，顯示分辨率為6位。因為偏置電壓不確定度很低，所以在+/-38V范圍內，電壓精度達0.1%的內部可編程直流偏置掃描源可確保非常少的測量錯誤。這使Agilent 4279A成為了**表征和測試變容二極管、MOS二極管等的器件理想工具。測量時(shí)間具有三種可選模式：10ms、20ms和30ms/meas，以達到*大生產(chǎn)效率。Agilent 4279A的快速量程選擇和高速GP-IB數據傳輸能力可以縮短測試時(shí)間。自動(dòng)偏置極性控制特性有助于為被測件快速選擇正確的極性偏置電壓。這種新功能簡(jiǎn)化了輸入/輸出檢查中的手動(dòng)采樣測試，并為自動(dòng)測試系統提供了簡(jiǎn)單的極性控制方法。 主要技術(shù)指標 用于晶片摻雜的C-V測量 變容二極管的C-V表征和分類(lèi)。 射頻混頻器和轉換二極管的電容測試。 通過(guò)進(jìn)廠(chǎng)檢驗的應用直流偏置測試電容器。 測量時(shí)間：10ms/20ms/30ms 測量精度：0.1%（20ms） 內部直流偏置：0至+/-38V，0.1%可編程掃描 測量范圍：0.00001pF至1280pF

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